机译:Si(1-x)Gex / Si异质结构的结构和分析表征,采用卢瑟福背散射光谱法和沟道和双晶X射线衍射法
机译:GaAs_(1-x)Bi_x合金的卢瑟福背散射光谱结合沟道技术的结构表征
机译:引导卢瑟福背散射光谱分析过程中硅引起的辐射损伤的系统研究
机译:使用TimePix位置敏感探测器,用于Rutherford反向散射光谱法与通道
机译:使用卢瑟福反向散射光谱法分析Cu(Ti)/介电层样品中自形成的富Ti界面层的生长
机译:使用原子序数对比扫描透射电子显微镜和卢瑟福背散射光谱技术对硒化镉纳米晶体系统进行原子能级表征。
机译:利用超声反向散射和扩散参数表征小梁骨的微观结构
机译:Rutherford通过化学喷雾热解沉积的ZnXPB1-XS薄膜的光谱分析和结构性能
机译:使用组合弹性反冲检测和卢瑟福/增强卢瑟福背散射光谱法进行材料分析